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JEM-2100F透射电子显微镜
点击率:2102 作者: 来源: 时间:2017-12-06
JEM-2100F透射电子显微镜

JEM-2100F透射电子显微镜主要性能参数:

电子枪:ZrO/W(100)Schottky热场发射电子枪

分辨率:点分辨率≤0.19nm、线分辨率≤0.10nm

加速电压:100,120,160,200kV

放大倍率:≥× 1000000

样品台:平移±1mm,最大倾角±25oSTEM

附件:具备明、暗场STEM和HAADF工作模式,分辨率≤0.2nm;

放大倍率≥× 500000CCD

相机:≥1100万象素

束斑漂移:<1nm/min

会聚束电子衍射:会聚角(2α):大于1.5-20mrad;接收角±10o

样品台:普通单倾、普通双倾、铍双倾

仪器主要应用领域和提供服务范围:1. 微结构研究:材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析,包括衍衬成像,电子衍射,高分辨分析;2. 材料微观结构成分研究:成分的定性和半定量分析,元素的点、线和面分析,材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析。
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